Les composants et systèmes électroniques peuvent être soumis lors de leurs utilisations à divers environnements radiatifs riches en particules comme les protons, électrons et ions lourds.
Le type de particules présentes dépend de l’environnement.
L’environnement spatial, par exemple, est riche en particules ionisantes (ions lourds, protons, …), ce qui n’est pas le cas pour l’enveniment terrestre avec la prédominance des neutrons.
Les radiations naturelles et artificielles sont considérées de nos jours parmi les causes de défaillances majeures pour l’électronique à haut niveau de fiabilité. Le passage d’une seule particule peut engendrer des dysfonctionnements permanent ou transitoire pouvant induire une perte de fonctionnalité.
Depuis plus de 15 ans, nous proposons des solutions pour vous guider dans le choix et l’utilisation de vos systèmes et dispositifs en environnement radiatif sévère à hautes exigences de fiabilité.
Nos tests sont adaptés aux contraintes radiatives naturelles et artificielles
Notre activité ASER, c’est des ingénieurs expérimentés en test SER, en conception de FPGA et de cartes à haute vitesse.
Nous disposons d’équipements ultra-performants pour des tests dédiés et entièrement personnalisés, basé sur une plateforme de test flexible et générique qui nous permet de répondre aux besoins des marchés suivants :
Nous collaborons avec les principaux acteurs du domaine du spatial, industriels, agences et laboratoires pour une qualification basée sur les standards de références (MIL, ESA, JEDEC)
Évaluation de la sensibilité aux SEE:
– Tests aux ions lourds, protons
– Évaluation de la tenue en dose
– Test au Co60 à différents niveaux de doses
Nous accompagnons les principaux clients pour analyser le taux de défaillance des composants critiques sur les cartes électroniques
Évaluation de la sensibilité aux SEE:
– Tests aux ions neutrons
atmosphériques
– Tests conformes aux standards JEDEC, JESD
Nous accompagnons les acteurs pour la qualification/choix des composants et l’expertise pour analyser le taux de défaillance sur les cartes électroniques
Évaluation de la sensibilité aux SEE:
– Tests aux neutrons thermiques, mono-énergétiques et atmosphériques
– Évaluation de la tenue en dose
– Test au Co60 à différents niveaux de doses
– Tests conformes aux standards MIL et ESA ESCC
Spécifications du besoin
Developpement Hw/Sw du banc
Réalisation des campagnes radiatives
Analyse des résultats et reporting
Grâce à plus de 100 références testées, des IPs Analog et digitales comme des : Processor ARM M, R & A, SparcV8, Q or IQ, Memories: S/D SRAM, ROM, Fuse, Flip Flops, High speed clock, IOs, High speed clock (>5GHz), SerDes (>15GHz), …
Sur les technologies ASIC de type BULK ou FDSOI, sur des nœuds 130nm, 90nm, 65nm, 28nm, 22nm, 12nm et 7 nm
EASii IC propose des solutions de tests adaptatives et génériques permettant une réduction significative de coûts et de temps de conception.
Nos bancs de tests sont validés et utilisés à travers le monde dans des différents générateurs et accélérateurs de particules.
Ils sont adaptés aux tests TID (Total Ionizing Dose) et SEE (Single Event Effect) et utilisables sous différents types d’environnements radiatifs (neutrons, ions lourds, rayonnement gamma, particules alpha, …)
La sensibilité des composants et systèmes électroniques doit être donc évaluée en fonction des contraintes imposées à chaque type d’application.
Nous proposons des solutions pour vous guider en vous proposons des tests dédiés à vos applications, comme représentées dans la figure suivante :
Les tests TID : L’évaluation de l’effet de la dose cumulée sur la dérive des paramètres électriques et fonctionnels grâce à des bons de mesures dédiés.
Des mesures sont réalisées à différents pas de doses selon les standards de références.
Le test SEU consiste à réaliser des tests sous accélérateur de particules et de mesurer leur sensibilité face aux évènements dont : Single Event Upset (MBU, MCU), SET (Single Event Transient), SEL (Single Event Latch up), SEFI (Single Event Functional Interrupt) et tout autre effet dit “singulier”.
Nous avons développé une plateforme avec 256 composants testés en parallèle en temps réel.
Quand la plateforme a été installée ce fut la 1ère Plateforme de Test en Temps Réel au niveau Européen
